Your license expired.
หน้าหลัก
ตอบคำถามออนไลน์
กระดานถามตอบ
ส่งอีเมล์ถึงเจ้าหน้าที่
ทรัพยากรแนะนำ
ย้อนกลับ
สมาชิก
รหัสสมาชิก
รหัสผ่าน
ฐานข้อมูลออนไลน์
Academic Search Ultimate
ACM Digital Library
American Chemical Society Journal (ACS)
EBSCO Discovery Service (EDS) Plus Full Text
Emerald Management
Engineering Source
IEEE/IET Electronic Library (IEL)
SpringerLink – Journal
ฐานข้อมูลสหบรรณานุกรม (UCTAL)
ฐานข้อมูลเอกสารฉบับเต็ม (TDC)
วารสารวิชาการปทุมวัน
ศูนย์ดัชนีการอ้างอิงวารสารไทย TCI (Thai-Journal Citation Index)
หนังสือ E-book บริษัทซีเอ็ด
หนังสือ E-book ศูนย์หนังสือจุฬาฯ
หนังสือ E-book สำนักพิมพ์ Cambridge University Press
ฐานข้อมูล หนังสือ
ยืมได้ที่เคาน์เตอร์บริการ
ยืมได้ที่เคาน์เตอร์บริการ
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
ฐานข้อมูล สื่อมัลติมีเดีย
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
ฐานข้อมูล หนังสือออิเล็กทรอนิกส์
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
มีสื่อประกอบ
ก
ข
ฃ
ค
ฅ
ฆ
ง
จ
ฉ
ช
ซ
ฌ
ญ
ฎ
ฏ
ฐ
ฑ
ฒ
ณ
ด
ต
ถ
ท
ธ
น
บ
ป
ผ
ฝ
พ
ฟ
ภ
ม
ย
ร
ล
ว
ศ
ษ
ส
ห
ฬ
อ
ฮ
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
1
2
3
4
5
6
7
8
9
0
เขตข้อมูล
หัวเรื่อง
คำสำคัญ
ชื่อผู้แต่ง
ชื่อเรื่อง
เลขมาตรฐานสากล
เลขเรียก
คำค้น
Search
|
Images
ฐานข้อมูล หนังสือ ผลการค้นหาประมาณ 1 รายการ
ลำดับ
ชื่อเรื่อง
เลขเรียก
ปี
จำนวน
รายการ
1.
Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the micro-and nanometer range / edited by Gunter Wilkening, Ludger Koenders.
c2005.
1
1
1
...
1
http://library.pit.ac.th/iLiB/
ช่วยเหลือ
|
ไทย
/
อังกฤษ
|